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弯曲测试模块
用于扫描电子显微镜、光学显微镜和手套箱原位实验的弯曲测试系统
弯曲测试模块200
N
(可俯视和侧视观察)
形变装置,适合在SEM的真空环境下工作。
可连续调节的速度范围为0.2 – 20μm/秒。
可以进行3点或4点弯曲测试。
可选扩展至500N。
下载参数表
弯曲测试模块
5kN
(可侧视观察)
形变装置,专为在AFM下使用而定制。
适合在SEM的真空环境下工作。
以断面或俯视显示试样。可调节的速度范围为2 – 150μm/秒。
可以进行3点或4点弯曲测试。
下载参数表
弯曲侧视模块5
kN
(可俯视观察)
形变装置,专为在AFM下使用而定制。
适合在SEM的真空环境下工作。
可俯视观察试样。可调节的速度范围为0.2 – 150μm/秒。
可以进行3点或4点弯曲测试。
下载参数表
Kipp-Biegemodul 200N
For compression experiments
Low and high forces
Holder to be used in the tensile module as an exchangeable compression device. Suitable for X-ray applications
Datenblatt Download
弯曲测试模块
200N
(可俯视和侧视观察)
形变装置,适合在SEM的真空环境下工作。
可连续调节的速度范围为0.2 – 20μm/秒。
可以进行3点或4点弯曲测试。
可选扩展至500N。
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5kN
(可侧视观察)
形变装置,专为在AFM下使用而定制。
适合在SEM的真空环境下工作。
以断面或俯视显示试样。可调节的速度范围为2 – 150μm/秒。
可以进行3点或4点弯曲测试。
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5kN
(可俯视观察)
形变装置,专为在AFM下使用而定制。
适合在SEM的真空环境下工作。
可俯视观察试样。可调节的速度范围为0.2 – 150μm/秒。
可以进行3点或4点弯曲测试。