Kriech- & Schertester

Creep- & shear-tester

Extrem steifer Prüfrahmen – ideal für spröde Proben (z. B. Keramik)

Entwickelt für präzise Scher- und Kriechversuche

Geeignet für Karten mit verlöteten Proben (empfohlene Dicke ≤ 4 mm)

Prüflast bis 2000 N

Separate Messung von Kraft und Weg

Reproduzierbare Scherkurven und Kriechdaten

Flexible Probenhalter – Sonderhalterungen möglich

Steuerbar manuell oder per PC-gesteuerter Mikroprozessor-Einheit

Hochauflösende Wegmessung (Heidenhain-Glasmaßstäbe)

Kraftmessung über DMS-Brücke

Hochvakuumtaugliches Modul für das REM

Kompakte Bauform: 160 × 65 × 74 mm

Integrierter XY-Tisch (20 × 20 mm Verfahrbereich)

In-situ-Härtemessung mit neigbarer Montage

Rissausbreitung während der Belastung beobachtbar

Hochpräzise Piezo-Aktoren in allen Achsen

Austauschbare Indenter: Vickers, Berkovich, Knoop

Verfahrgeschwindigkeit: 1 nm/s bis 4 mm/s

Lasergestützte Z-Messung mit <3 nm Genauigkeit

Perfekt für gezielte Mikrohärteprüfungen im REM

Wenn elektronische Platinen ausfallen, kann das schwerwiegende Folgen für den Betrieb komplexer Systeme haben.
Deshalb sind Qualitätstests ein Muss für den Hersteller solcher Platinen.