Die elektrische Halbleiterprüfung mit mikroskopischer Unterstützung ist aus der Qualitätskontrolle ebenso wenig wegzudenken, wie aus der Forschung. Insbesondere der Bereich „IC Test“ verlangt nicht nur höchste mechanische Präzision, sondern auch nach immer neuen Instrumenten für Qualitätsprüfung und Forschung.
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